-
1
-
2
-
3
Correcting the Characteristics of Silicon Photodiodes by Ion Implantation
Veröffentlicht in Semiconductors (Woodbury, N.Y.)
VolltextArtikel -
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
-
12
-
13
-
14
-
15
-
16
Unusual X-Shaped Defects in the Silicon Single Crystal Subjected to Four-Point Bending
Veröffentlicht in JETP letters
VolltextArtikel -
17
On the Spectrum of Interlayer Roughnesses in a Phospholipid Multilayer
Veröffentlicht in JETP letters
VolltextArtikel -
18
-
19
Laboratory Microtomographs: Design and Data Processing Algorithms
Veröffentlicht in Crystallography reports
VolltextArtikel -
20