-
1
-
2
-
3
RRAM serial configuration for the generation of random bits
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
4
Enhanced serial RRAM cell for unpredictable bit generation
Veröffentlicht in Solid-state electronics
VolltextArtikel -
5
Electrical localisation of full open defects in comb–meander–comb structures
Veröffentlicht in Electronics letters
VolltextArtikel -
6
-
7
-
8
-
9
-
10
-
11
Impact of gate tunnelling leakage on CMOS circuits with full open defects
Veröffentlicht in Electronics letters
VolltextArtikel -
12
-
13
-
14
-
15
-
16
Effectiveness of very low voltage testing of bridging defects
Veröffentlicht in Electronics letters
VolltextArtikel -
17
Delay caused by resistive opens in interconnecting lines
Veröffentlicht in Integration (Amsterdam)
VolltextArtikel -
18
-
19
-
20