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Characterization of crystalline MOCVD SrTiO3 films on SiO2/Si(100)
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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Characterization of crystalline MOCVD SrTiO 3 films on SiO 2/Si(100)
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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