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APPARATUS FOR MEASURING LIFE TIME OF MINORITY CARRIERS IN SEMICONDUCTOR
von
AKHMANAEV VIKTOR B,SU
,
MEDVEDEV YURIJ V,SU
,
SAFRONOV ANATOLIJ I,SU
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TRANSDUCER OF PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR MATERIALS
von
AKHMANAEV VIKTOR B,SU
,
MEDVEDEV YURIJ V,SU
,
KHLESTUNOV ANATOLIJ P,SU
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Patent
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3
CHAMBER FOR MEASURING SEMICONDUCTOR PLATE PARAMETERS
von
LEVDIKOVA TAMARA L,SU
,
AKHMANAEV VIKTOR B,SU
,
MEDVEDEV YURIJ V,SU
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Patent
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4
ELECTROPHYSICAL PARAMETER TRANSDUCER
von
PETROV ALEKSEJ S,SU
,
AKHMANAEV VIKTOR B,SU
,
DANILOV GENNADIJ N,SU
,
MEDVEDEV YURIJ V,SU
,
DETINKO MIKHAIL V,SU
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Patent
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5
SEMICONDUCTOR MATERIAL ELECTROPHYSICAL PARAMETER PICKUP
von
TURKIN IGOR N,SU
,
PETROV ALEKSEJ S,SU
,
URAEVSKIJ MIKHAIL G,SU
,
AKHMANAEV VIKTOR B,SU
,
MEDVEDEV YURIJ V,SU
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Patent
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Electricity
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Semiconductor Devices
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Esp@Cenet
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