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Mismatch of lateral field metal-oxide-metal capacitors in 180 nm CMOS process
Veröffentlicht in Electronics letters
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Forward instrumentation for ILC detectors
Veröffentlicht in Journal of instrumentation
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Noise power normalisation: extension of g m / I D technique for noise analysis
Veröffentlicht in Electronics letters
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Noise power normalisation: extension of gm/ID technique for noise analysis
Veröffentlicht in Electronics letters
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Mismatch of lateral field metal-oxide-metal capacitors in 180 nm CMOS process
Veröffentlicht in Electronics letters
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Noise in Charge Amplifiers-A g/I Approach
Veröffentlicht in IEEE transactions on nuclear science
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