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Trajectory of Gas Adsorption Experiments
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Organic Depth Profiling by Cluster Ion Sputter
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Analysis on Organic Thin-Layer Photovoltaic Cells by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy
Veröffentlicht in Hyomen Kagaku
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HAXPES Analysis on Organic Electronics Devices under Operation
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ToF-SIMS characterization of molecular ions from Fomblin Z-DOL on Ag substrates
Veröffentlicht in Applied surface science
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