자기조직화 지도를 이용한 반도체 패키지 내부결함의 패턴분류 알고리즘 개발 von 김재열(J. Y. Kim), 윤성운(S. U. Yoon), 김훈조(H. C. Kim), 김창현(C. H. Kim), 양동조(D. J. Yang), 송경석(K. S. Song)

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