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    A data mining approach to the causal analysis of product faults in multi-stage PCB manufacturing von Sim, Hyunsik, Choi, Doowon, Kim, Chang Ouk


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    제조 공정에서의 실시간 불량 탐지를 위한 딥러닝 모델 적용 연구 - 라벨 인쇄 공정에서 불량 탐지 사례

    제조 공정에서의 실시간 불량 탐지를 위한 딥러닝 모델 적용 연구 - 라벨 인쇄 공정에서 불량 탐지 사례 von 손진호(Jin Ho Son), 김창욱(Chang Ouk Kim)

    Veröffentlicht in 펄프·종이기술

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    Wafer-to-wafer process fault detection using data stream mining techniques

    Wafer-to-wafer process fault detection using data stream mining techniques von Ko, Jong Myoung, Hong, Seong Rok, Choi, Ja Young, Kim, Chang Ouk


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