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    Hot-electron reliability improvement using perhydropolysilazane spin-on-dielectric passivation buffer layers for AlGaN/GaN HEMTs von Iqbal, Mustazar, Ko, Pil-Seok, Kim, Sam-Dong

    Veröffentlicht in Current applied physics

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    Scaling Rules for Multi-Finger Structures of 0.1-μm Metamorphic High-Electron-Mobility Transistors

    Scaling Rules for Multi-Finger Structures of 0.1-μm Metamorphic High-Electron-Mobility Transistors von 고필석, 박형무


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