AE測定法による亜テルル酸リチウム作製プロセスの評価 von 鹿野, 弘二, 山本, 大貴

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AE測定法による種々の粉末無機化合物の評価 von 鹿野, 弘二, 本村, 直己, 高見, 絵里加, 立花, 由衣, 砂原, 加那

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不足当量及び機器的/荷電粒子放射化分析による高純度鉄中の酸素,窒素,炭素及びホウ素の定量 von 重松, 俊男, 鹿野, 弘二, 米沢, 洋樹

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太陽光励起Nd3+添加テルライトガラスの量子効率 von 那須, 寛之, 河井, 優幸, 鈴木, 健伸, 大石, 泰丈, 水野, 真太郎, 長谷川, 和男, 伊藤, 博, 鹿野, 弘二

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中性子放射化分析法によるシリコンウェハー表面の銅の定量 von 米沢, 洋樹, 鹿野, 弘二, 重松, 俊男

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31p-B1-13 BaPb_<1-x>Bi_xO_3中の酸素欠陥の定量(低温) von 日高, 義和, 鹿野, 弘二, 米澤, 洋樹, 村上, 敏明

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2p-B-1 BaPb_<1-x>Bi_xO_3の組成分析 von 米沢, 洋樹, 鹿野, 弘二, 加藤, 正明, 重松, 俊男

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Substoichiometric and instrumental/charged particle activation analysis of oxygen, nitrogen, carbon and boron in high-purity iron von SHIGEMATSU, Toshio, SHIKANO, Koji, YONEZAWA, Hiroki

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Determination of ultra-trace copper on silicon wafer by neutron activation analysis von YONEZAWA, Hiroki, SHIKANO, Koji, SHIGEMATSU, Toshio

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荷電粒子放射化分析法による超伝導セラミックス中の高確度酸素分析 von 鹿野, 弘二, 重松, 俊男

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Accurate Determination of Oxygen in Superconducting Ceramics by Charged Particle Activation Analysis von SHIKANO, Koji, SHIGEMATSU, Toshio

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26aBB-12 光渦ビームを用いた弱測定による偏光状態の直接測定(量子エレクトロニクス(量子力学・量子通信・量子測定),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))... von 小林, 弘和, 鹿野, 豊, 野中, 弘二

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東北日本, 白鷹火山の層序と歴史 von 三村, 弘二, 鹿野, 和彦

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