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Off-state avalanche breakdown induced degradation in 20 V NLDMOS devices
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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Hot-carrier-induced on-resistance degradation of step gate oxide NLDMOS
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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순환식 병류형 곡물건조기 개발 (1) - 시작기의 성능시험
Veröffentlicht in Journal of biosystems engineering
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