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27pCC-8 二準位系でのOzawa不等式の誤差と擾乱(27pCC 量子エレクトロニクス(量子光学・量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))...
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30aCC-5 偏光の連続測定による複素結合確率分布の再構築(30aCC 量子エレクトロニクス(量子測定),領域1(原子分子・量子エレクトロニクス・放射線))...
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27aBE-11 結合確率の測定によるLeggett-Garg不等式の破れ(27aBE 量子測定,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
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27aBE-9 Sagnac干渉計を用いた偏光の弱測定(27aBE 量子測定,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
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25pRF-11 光子の2モード干渉における偏光状態の弱い量子測定(25pRF 量子エレクトロニクス(光量子情報処理),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))...
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