放射光X線マイクロCTによるフリップチップはんだ接合部における熱疲労寿命の非破壊評価(<小特集>電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)... von 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 岡本, 佳之, 高柳, 毅, 上杉, 健太朗, 森, 孝男

Volltext

放射光X線マイクロCTによるSn-Pbはんだ接合部における微細組織変化の観察 von 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 高柳, 毅, 上杉, 健太朗, 森, 孝男

Volltext

マイクロ接合部の疲労損傷評価のための非破壊ひずみ測定の可能性試験 von 岡本, 佳之, 高柳, 毅, 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 上杉, 健太朗, 星野, 真人, 長瀬, 達則, 森, 孝男

Volltext

放射光X線ラミノグラフィによるフリップチップはんだ接合部の熱疲労き裂進展評価 von 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 岡本, 佳之, 高柳, 毅, 上杉, 健太朗, 星野, 真人, 森, 孝男

Volltext

放射光X線CTを応用した Fine pich Ball Grid Array 鉛フリー接合部の熱疲労き裂の非破壊観察 von 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 岡本, 佳之, 高柳, 毅, 上杉, 健太朗, 森, 孝男

Volltext

放射光X線マイクロCTによる3次元データを用いたフリップチップはんだ接合部のき裂進展過程の評価 von 釣谷, 浩之, 佐山, 利彦, 岡本, 佳之, 高柳, 毅, 上杉, 健太朗, 森, 孝男

Volltext

Application of Synchrotron Radiation X-ray Micro-tomography to Nondestructive Observation of Thermal Fatigue Cracks in Lead-free FBGA Interconnects

Volltext