Pattern dependence in synergistic effects of total dose on single-event upset hardness von 郭红霞 丁李利 肖尧 张凤祁 罗尹虹 赵雯 王园明

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Impacts of test factors on heavy ion single event multiple-cell upsets in nanometer-scale SRAM von 罗尹虹 张凤祁 郭红霞 肖尧 赵雯 丁李利 王园明

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Synergistic effects of total ionizing dose on single event upset sensitivity in static random access memory under proton irradiation von 肖尧 郭红霞 张凤祁 赵雯 王燕萍 张科营 丁李利 范雪 罗尹虹 王园明

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