The single-event effect evaluation technology for nano integrated circuits von 郑宏超 赵元富 岳素格 范隆 杜守刚 陈茂鑫 于春青

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A prediction technique for single-event effects on complex integrated circuits von 赵元富 于春青 范隆 岳素格 陈茂鑫 杜守刚 郑宏超

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