Impact of temperature on single event upset measurement by heavy ions in SRAM devices von 刘天奇 耿超 张战刚 赵发展 古松 童腾 习凯 刘刚 韩郑生 侯明东 刘杰

Volltext

Modeling and assessing the influence of linear energy transfer on multiple bit upset susceptibility von 耿超 刘杰 习凯 张战刚 古松 刘天奇

Volltext

Large energy-loss straggling of swift heavy ions in ultra-thin active silicon layers von 张战刚 刘杰 候明东 孙友梅 赵发展 刘刚 韩郑生 耿超 刘建德 习凯 段敬来 姚会军 莫丹 罗捷 古松 刘天奇

Volltext