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Observation of Heavily Phosphorus-Doped Silicon Surfaces by Atomic Force Microscope
Veröffentlicht in Hyomen Kagaku
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Macroscopic Distribution of Grown-in Defects in Silicon Crystal
Veröffentlicht in SHINKU
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Equilibrium Concentration of Point Defects under Various Stages in Growing Silicon Crystal
Veröffentlicht in SHINKU
VolltextArtikel -
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Formation of Polyhedral Cavities in Czochralski Silicon Crystal
Veröffentlicht in SHINKU
VolltextArtikel