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電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量 -Mg Kα に対するGeの質量吸収係数の検討
Veröffentlicht in Journal of Surface Analysis
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初期端点の自動調整機能を付加したactive Shirley法によるXPSバックグラウンドの自動推定
Veröffentlicht in Journal of Surface Analysis
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動的Shirley法によるXPSスペクトルのバックグラウンド自動推定と定量分析
Veröffentlicht in Journal of Surface Analysis
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Data-driven spectral analysis method in electron-beam based techniques
Veröffentlicht in 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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誘電関数データベースを目指した、高エネルギー分解能REELS装置を用いたFe酸化物薄膜の可視光から超軟X線帯の評価
Veröffentlicht in 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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Probing electron-phonon interactions of graphene/Cu using low energy secondary electrons
Veröffentlicht in 日本表面真空学会学術講演会要旨集
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White electron beam technique in electron-beam based techniques
Veröffentlicht in Journal of Surface Analysis
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