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In-Field Characterization of FeTe0.8S0.2 Epitaxial Thin Films
Veröffentlicht in JSAP Annual Meetings Extended Abstracts
VolltextArtikel -
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High-Field Characterization of Fe-Te-S Epitaxial Thin Films
Veröffentlicht in JSAP Annual Meetings Extended Abstracts
VolltextArtikel -
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