プライバシー保護に向けたソリッドステートストレージシステム von 前田, 一輝, 田中丸, 周平, 山沢, 裕紀, 竹内, 健

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TLC NANDフラッシュメモリ向け高信頼化コントローラ技術 von 徳冨, 司, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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長期保存に向けたSSDの高信頼手法 von 山崎, 泉樹, 田中丸, 周平, 北村, 雄太, 竹内, 健

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エンタープライズ向けソリット・ステート・ドライブの高信頼手法 von 山崎, 泉樹, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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チュートリアル招待講演 SSDの現状と将来動向 : エラーを76%削減したSSD von 竹内 健, 田中丸 周平, 柳原 裕貴

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統合ソリッドステードストレージの信頼性評価 von 土井, 雅史, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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統合ソリッドステートストレージアーキテクチャ von 田中丸, 周平, 土井, 雅史, 竹内, 健

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NANDフラッシュメモリ向け書き込みディスターブエラーに対する最適な非対称符号化法 von 土井, 雅史, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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抵抗変化型メモリ向け高信頼、高性能化コントローラ技術 von 山沢, 裕紀, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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信頼性を考慮したストレージクラスメモリとNANDフラッシュメモリを用いたSSDの性能解析 von 瀧下, 博文, 田中丸, 周平, 保坂, 翔吾, 上口, 光, 竹内, 健

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50 nm AlxOy ReRAMアレイの書き換え前後のデータ保持特性 von 山沢, 裕紀, 寧, 渉洋, Ogura, Iwasaki Tomoko, 田中丸, 周平, 上口, 光, 竹内, 健

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TLCフラッシュメモリ向け読み出し電圧の動的最適化及びデータの自動回復技術 von 小林, 惇朗, 徳冨, 司, 土井, 雅史, 蜂谷, 尚悟, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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TLC NAND フラッシュメモリ向け高速,高信頼LDPC符号 von 徳冨, 司, 土井, 雅史, 蜂谷, 尚悟, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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NANDフラッシュメモリにおけるエラー回復システム von 柳原, 裕貴, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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20nm世代TLC(3bit/cell) NANDフラッシュメモリの信頼性評価 von 山根, 佳彦, 蜂谷, 尚悟, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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高信頼、低消費電力SSDのための符号化手法 von 田中丸, 周平, 洪, 慶麟, 竹内, 健

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NANDフラッシュメモリの信頼性測定 von 洪, 慶麟, 田中丸, 周平, 竹内, 健

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局所電子注入非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクトディスターブの抑制 von 宮地, 幸祐, 本田, 健太郎, 田中丸, 周平, 宮野, 信治, 竹内, 健

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ウエハ作製後の6T-SRAMにおける電子の局所注入による非対称アクセストランジスタを用いた読み出し安定性の改善 von 本田, 健太郎, 宮地, 幸祐, 田中丸, 周平, 宮野, 信治, 竹内, 健

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極低電圧動作チャージトラップSRAM・強誘電体SRAM von 竹内, 健, 宮地, 幸祐, 田中丸, 周平, 本田, 健太郎, 宮野, 信治

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