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Characterization of ion-implanted 4H-SiC Schottky barrier diodes
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王守国 张岩 张义门 张玉明
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Chinese physics B
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Ohmic contacts of 4H-SiC on ion-implantation layers
von
王守国 张岩 张义门 张玉明
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测量方法
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肖特基势垒二极管
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蒙特卡罗仿真
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Iop Publishing Journals
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Iopscience Extra
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