テラヘルツテクノロジーの資源開発分野への適用可能性 von 陳, 友晴, 別所, 昌彦, 伊藤, 俊秀, 濱野, 哲英, 薄, 善行

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薄膜GaAs半導体の非破壊キャリア濃度測定 von 濱野, 哲英, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 薄, 善行

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半導体計測用テラヘルツ波 von 濱野, 哲英, 高津, 好伸, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 薄, 善行

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n,p-type Siウエハの非破壊キャリア濃度測定 von 濱野, 哲英, 高津, 好伸, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 薄, 善行

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周波数可変テラヘルツ装置を用いたシリコンウエハのキャリア濃度測定 von 濱野, 哲英, 腹子, 章, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 薄, 善行

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テラヘルツ波を用いたSiCウエハ電気特性の測定 von 濱野, 哲英, 腹子, 章, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 高津, 好伸, 薄, 善行

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n,p-type薄膜GaNウエハのテラヘルツ反射測定 von 濱野, 哲英, 腹子, 章, 大野, 誠吾, 南出, 泰亜, 伊藤, 弘昌, 薄, 善行, 渡辺, 泰史, 住田, 行常, 河合, 弘治

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22pPSA-36 CeO_2のX線共鳴ラマン散乱スペクトル von 中井, 俊一, 渡邉, 徹, 佐々木, 克浩, 濱野, 哲英, 平山, 英知, 岩崎, 竜也, 小高, 正司, 柏倉, 隆之, 岩住, 俊明

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Evaluation of the Possible Application of Terahertz Technology to Resource Exploitation von CHEN, Youqing, BESSHO, Masahiko, ITO, Toshihide, HAMANO, Akihide, USUKI, Yoshiyuki

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