Suchergebnisse - 渡辺, 万三志 | OPAC THWS

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多変量統計解析を利用したスペクトル・イメージの解析：利点と問題点 von 渡辺, 万三志, 石塚, 和夫

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FIB-STEMシステムによるSiデバイス3D元素分布像観察 von 矢口, 紀恵, 上野, 武夫, 小笠原, 光雄, 鍛示, 和利, 渡辺, 万三志

Veröffentlicht in まてりあ

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3

元素マッピングによる耐熱Cr鋼の粒界微細組織解析 von 渡辺, 万三志, 友清, 芳二

Veröffentlicht in 電子顕微鏡

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4

AEMによる薄膜試料のXEDS分析：最近の動向と発展 von 渡辺, 万三志

Veröffentlicht in 顕微鏡

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5

分析電子顕微鏡X線微小部分析法によるNi-Al系相互拡散係数の測定 von 渡辺, 万三志, 堀田, 善治, 藤波, 隆善, 佐野, 毅, 根本, 実

Veröffentlicht in 日本金属学会誌

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6

電子顕微鏡法の最前線～『顕微法』と『分光法』 von 友清, 芳二, 渡辺, 万三志

Veröffentlicht in 表面技術

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