CAAC-IGZO薄膜の偏光XANES測定 von 石黒, 佳美, 黒澤, 陽一, 菊地, 彫, 高橋, 正弘, 中山, 智則, 津吹, 将志, 山﨑, 舜平

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IGZO膜のナノ結晶の存在について von 高橋, 正弘, 廣橋, 拓也, 津吹, 将志, 太田, 将志, 山﨑, 舜平

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極微電子線回折による結晶性評価 von 大力, 浩二, 高橋, 正弘, 廣橋, 拓也, 津吹, 将志, 太田, 将志, 山﨑, 舜平

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IGZOの深い欠陥準位と膜質の評価 von 太田, 将志, 渡邊, 了介, 石原, 典隆, 黒澤, 陽一, 津吹, 将志, 山﨑, 舜平

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スパッタ成膜単結晶InGaZnO薄膜のトランジスタ特性 von 山田, 良則, 松林, 大介, 松田, 慎平, 佐藤, 裕平, 太田, 将志, 伊藤, 大吾, 津吹, 将志, 高橋, 正弘, 廣橋, 拓也, 坂倉, 真之, 山﨑, 舜平

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IGZOの結晶化に対する水素の効果 von 廣橋, 拓也, 中島, 基, 高橋, 正弘, 津吹, 将志, 山﨑, 舜平

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結晶性IGZOとアモルファスIGZOにおける酸素欠損の生成 von 高橋, 正弘, 中島, 基, 廣橋, 拓也, 津吹, 将志, 山崎, 舜平

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薄膜IGZOにおける膜密度と拡散の関係 von 野中, 裕介, 石原, 典隆, 津吹, 将志, 太田, 将志, 松林, 大介, 山崎, 舜平

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PLおよび光電流一定法(CPM)を用いたIGZOのギャップ内準位の評価 von 石原, 典隆, 野中, 裕介, 渡邊, 了介, 津吹, 将志, 山崎, 舜平

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IGZO TFTにおける組成比と光負バイアス劣化 von 中島, 基, 石山, 貴久, 廣橋, 拓也, 津吹, 将志, 早川, 昌彦, 高橋, 正弘, 山崎, 舜平

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結晶性の異なるIGZO薄膜の膜密度比較 von 金村, 大志, 岸田, 英幸, 秋元, 健吾, 野中, 裕介, 津吹, 将志, 高橋, 正弘, 山崎, 舜平

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