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    VLSI のテストと高信頼性

    VLSI のテストと高信頼性 von 樹下, 行三

    Veröffentlicht in 計測と制御

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    I_計測による故障検出と故障診断

    I_計測による故障検出と故障診断 von 温, 暁青, 玉本, 英夫, 樹下, 行三


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    LSIの故障診断技術

    LSIの故障診断技術 von 樹下, 行三


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    Testing and Reliable Design of VLSI

    Testing and Reliable Design of VLSI von KINOSHITA, Kozo


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