時間分解STMを用いた表面キャリアダイナミクス計測 von 相澤, 優太, 横田, 統徳, 吉田, 昭二, 武内, 修, 重川, 秀実

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半導体測定における時間分解 STM信号の解析 von 横田, 統徳, 吉田, 昭二, 武内, 修, 重川, 秀実

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時間分解STMで観測される半導体の光キャリア緩和過程と物理モデルの検証 von 横田, 統徳, 成田, 和繁, 吉田, 昭二, 武内, 修, 重川, 秀実

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SPPX-STMで観測されるキャリア緩和過程の物理モデルの検証 von 横田, 統徳, 成田, 和繁, 吉田, 昭二, 寺田, 康彦, 武内, 修, 重川, 秀実

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時間分解STM によるGaAs上金属誘起ギャップ準位のキャリア捕獲時間計測 von 小室, 亘, 高橋, 直希, 横田, 統徳, 寺田, 康彦, 吉田, 昭二, 武内, 修, 重川, 秀美

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ギャップ内準位を介したキャリアダイナミックスの時間分解STM von 横田, 統徳, 寺田, 康彦, 吉田, 昭二, 大久保, 淳史, 石川, 智康, 武内, 修, 重川, 秀実

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