2016年9月7日台風13号による柿平沢土砂災害 von 石川, 芳治, 執印, 康裕, 柏原, 佳明, 宮田, 直樹, 大野, 亮一, 飛岡, 啓之, 梶原, 誠, 沼宮内, 信

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Temperature and Voltage Measurement for Field Test Using an Aging-Tolerant Monitor von Miyake, Yousuke, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Miura, Yukiya

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A Flexible Scan-in Power Control Method in Logic BIST and Its Evaluation with TEG Chips von Kato, Takaaki, Wang, Senling, Sato, Yasuo, Kajihara, Seiji, Wen, Xiaoqing

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堰堤と渓流魚の共存は可能なのか von 大浜, 秀規, 加地, 弘一, 梶原, 誠, 高橋, 一孝, 坪井, 潤一

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5.4 物理劣化による脅威とフィールドテストの役割(第5章:素子特性経時劣化,<特集>ディペンダブルVLSIシステム) von 佐藤, 康夫, 梶原, 誠司

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10.4 フィールドテストデータの蓄積とその活用(第10章:将来の課題,<特集>ディペンダブルVLSIシステム) von 梶原, 誠司, 大竹, 哲史

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Low Power BIST for Scan-Shift and Capture Power von Sato, Y., Senling Wang, Kato, T., Miyase, K., Kajihara, S.

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On low-capture-power test generation for scan testing von Xiaoqing Wen, Yamashita, Y., Kajihara, S., Laung-Terng Wang, Saluja, K.K., Kinoshita, K.

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120. トロンボモジュリン測定値の標準化に向けて シスメックスHISCL-5000を基準とした係数算定 von 福田善久, 馬原靖明, 梶原誠宜, 渡邊遥奈

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Multi-cycle Test with Partial Observation on Scan-Based BIST Structure von Sato, Y., Yamaguchi, H., Matsuzono, M., Kajihara, S.

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4.6 オンチップ回路による高精度遅延計測(第4章:素子特性ばらつき,<特集>ディペンダブルVLSIシステム) von 三浦, 幸也, 佐藤, 康夫, 梶原, 誠司

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On Achieving Capture Power Safety in At-Speed Scan-Based Logic BIST von TOMITA, Akihiro, WEN, Xiaoqing, SATO, Yasuo, KAJIHARA, Seiji, MIYASE, Kohei, HOLST, Stefan, GIRARD, Patrick, TEHRANIPOOR, Mohammad, WANG, Laung-Terng

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On Guaranteeing Capture Safety in At-Speed Scan Testing with Broadcast-Scan-Based Test Compression von Enokimoto, K., Xiaoqing Wen, Miyase, K., Jiun-Lang Huang, Kajihara, S., Laung-Terng Wang

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フィールド高信頼化のためのアプローチ(<特集>LSIのテスト・評価技術) von 佐藤, 康夫, 梶原, 誠司

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論理回路に対する遅延テスト手法 von 梶原, 誠司, 佐藤, 康夫

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A new ATPG method for efficient capture power reduction during scan testing von Xiaoqing Wen, Kajihara, S., Miyase, K., Suzuki, T., Saluja, K.K., Laung-Terng Wang, Abdel-Hafez, K.S., Kinoshita, K.

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Effective Launch-to-Capture Power Reduction for LOS Scheme with Adjacent-Probability-Based X-Filling von Miyase, K., Uchinodan, Y., Enokimoto, K., Yamato, Y., Wen, X., Kajihara, S., Wu, F., Dilillo, L., Bosio, A., Girard, P., Virazel, A.

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A Scan-Out Power Reduction Method for Multi-cycle BIST von Senling Wang, Sato, Y., Miyase, K., Kajihara, S.

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Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing von MIYASE, Kohei, NODA, Kenji, ITO, Hideaki, HATAYAMA, Kazumi, AIKYO, Takashi, YAMATO, Yuta, FURUKAWA, Hiroshi, WEN, Xiaoqing, KAJIHARA, Seiji

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CTX: A Clock-Gating-Based Test Relaxation and X-Filling Scheme for Reducing Yield Loss Risk in At-Speed Scan Testing von Furukawa, H., Wen, X., Miyase, K., Yamato, Y., Kajihara, S., Girard, P., Wang, L.-T., Tehranipoor, M.

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