Conference Report: The 38th annual edition of the Applied Power Electronics Conference (APEC 2023) March 19-23, 2023, Orlando, FL, USA von 優汰, 松谷

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界面欠陥のキャリア捕獲・放出過程を考慮したSiC MOSFETの3レベルチャージポンピング特性解析 von 松谷, 優汰, 矢野, 裕司

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界面近傍酸化膜トラップを考慮した4H-SiC MOSFETの3レベルチャージポンピング特性の解析 von 松谷, 優汰, 張, 旭芳, 岡本, 大, 岩室, 憲幸, 矢野, 裕司

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On-the-flyチャージポンピング法によるSiC MOSFET負バイアスストレス時の界面トラップ生成解析 von 岡本, 大, 染谷, 満, 坂田, 大輝, 張, 旭芳, 松谷, 優汰, 畠山, 哲夫, 岡本, 光央, 原田, 信介, 矢野, 裕司, 岩室, 憲幸

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