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    微分位相コントラスト走査型透過電子顕微鏡 (DPC-STEM) 法を用いた二色成形樹脂界面の局所構造解析

    微分位相コントラスト走査型透過電子顕微鏡 (DPC-STEM) 法を用いた二色成形樹脂界面の局所構造解析 von 掛村, 康人, 両角, 浩一, 和田, 充洋, 中田, 真弓, クラーク, イアン, 金古, 健, 今村, 剛, 斎藤, 和行, 加藤, 達

    Veröffentlicht in 成形加工

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