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    Azimuthal dependence of single-event and multiple-bit upsets in SRAM devices with anisotropic layout

    Azimuthal dependence of single-event and multiple-bit upsets in SRAM devices with anisotropic layout von 张战刚 刘杰 侯明东 孙友梅 苏弘 古松 耿超 姚会军 罗捷 段敬来 莫丹 习凯 恩云飞

    Veröffentlicht in 核技术（英文版）

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