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0.15μm薄膜全耗尽MOS/SOI器件的设计和研制
von
张兴 王阳元
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Journal of semiconductors
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SOI MOSFET的失真行为
von
张国艳 黄如 张兴 王阳元
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Journal of semiconductors
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Experimental clarification of orientation dependence of germanium PMOSFETs with AlzO3/GeOx/Ge gate stack
von
云全新 黎明 安霞 林猛 刘朋强 李志强 张冰馨 夏宇轩 张浩 张兴 黄如 王阳元
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中国物理B:英文版
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Impact of nitrogen plasma passivation on the interface of germanium MOS capacitor
von
云全新 黎明 安霞 林猛 刘朋强 李志强 张冰馨 夏宇轩 张浩 张兴 黄如 王阳元
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Chinese physics B
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21世纪初微电子技术的发展趋势
von
王阳元 张兴
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中国科技财富
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Iopscience Extra
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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