G-SIMSによる高分子試料解析の基礎的検討 von 青柳, 里果, 三原, 一郎, 工藤, 正博

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1P339 飛行時間型二次イオン質量分析法によるタンパク質-分子層の構造評価法の開発(バイオエンジニアリング、計測,口頭発表,第45回日本生物物理学会年会)... von 青柳, 里果, 土肥, 誠, 加藤, 信彦, 工藤, 正博

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1P340 TOF-SIMSによる電極固定化リゾチウムの表面構造測定(計測,ポスター発表,第45回日本生物物理学会年会) von 岡田, 慶悟, 青柳, 里果, 加藤, 信彦, 工藤, 正博

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データマイニング等によって得られた知見・ノウハウの知的財産制度上の課題の検討 ‐農業分野でのAI（Agri-Informatics）システムを通じた考察... von 工藤, 正博

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第29回表面科学基礎講座: 表面・界面分析の基礎と応用 von 工藤, 正博

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ガラス基板上のタンパク質分布に関するTOF-SIMSイメージング評価法 von 青柳, 里果, 工藤, 正博

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講演大会特集号に寄せて von 工藤, 正博

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Auクラスター一次イオン源を用いたTOF-SIMS測定における二次イオン強度増大効果 von 工藤, 正博, 相本, 健一, 加藤, 信彦, 青柳, 里果, 飯田, 典子, 山本, 公

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ガラス表面のキャラクタリゼーション （I）: ガラス表面における諸現象の発現機構 von 林, 泰夫, 工藤, 正博

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ガラス表面のキャラクタリゼーション （II）: ガラス表面にコーティングした薄膜の特性支配因子の解析 von 林, 泰夫, 工藤, 正博

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フロートプロセスにおけるガラスへの錫拡散機構 von 林, 泰夫, 松本, 潔, 工藤, 正博

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スタティックSIMS法の基礎と応用 von 齋藤, 玲子, 工藤, 正博

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最適化された低エネルギー一次イオン照射条件下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化 von 星, 孝弘, 戸津, 美矢子, 工藤, 正博

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バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性 von 戸津, 美矢子, 星, 孝弘, 工藤, 正博

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圃場常設型非破壊計測の検討 von 工藤, 正博, 神成, 淳司, 小川, 貴代, 和田, 智之

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最適入射角度の低速酸素イオンを用いたSIMSによるボロンのゲート酸化膜突き抜け現象の解析 von 川島, 義也, 小山, 晋, 安藤, 公一, 井手, 隆, 青柳, 里果, 工藤, 正博

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TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価 von 青柳, 里果, 大岩, 佑子, 工藤, 正博, 戸津, 美矢子, 星, 孝弘

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TOF-SIMSを用いたポリマーの化学構造解析 von 齋藤, 玲子, 工藤, 正博

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中低磁気緯度の電離圏環境に対応したGBAS(地上型衛星航法補強システム)の開発(<連載>TOP POINT～学会賞受賞者の声～) von 藤井, 直樹, 福島, 荘之介, 齊藤, 真二, 吉原, 貴之, 齋藤, 享, 工藤, 正博, 藤田, 征吾, 小野, 剛, 鈴木, 和史, 岩崎, 隆一郎, 野崎, 豊

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GBAS導入の効果とその課題 von 武市, 昇, 工藤, 正博, 藤井, 直樹

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