脳の高次機能解明に向けた脳神経系細胞の近接場光イメージング von 櫻井, 杏梨, 酒井, 優, 篠崎, 陽一, 繁冨, 英治, 小泉, 修一, 居島, 薫, 堀, 裕和, 小林, 潔

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グリア細胞の機能解明に向けたシナプス領域の近接場イメージング（Ⅲ） von 櫻井, 杏梨, 酒井, 優, 篠崎, 陽一, 柴田, 圭輔, 繁冨, 英治, 小泉, 修一, 居島, 薫, 堀, 裕和, 小林, 潔

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偏光全反射蛍光EXAFSによる金属単原子の三次元吸着構造解析 von 小池, 祐一郎, 居島, 薫, 芦間, 英典, 藤川, 敬介, 鈴木, 秀士, 野村, 昌治, 岩澤, 康裕, 田, 旺帝, 朝倉, 清高

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散乱型SNOMの試作 von 大橋, 輝久, 上野, 源太, 内山, 和治, 小林, 潔, 居島, 薫

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27a-PS-63 小型モット検出器の開発I von 水野, 清義, 居島, 薫, 早川, 和延

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31a-PS-30 鉄ウィスカー結晶の成長およびRHEEDによる観察 von 蒋, 紅, 居島, 薫, 王, 楠, 中村, 浩次, 早川, 和延

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31p-Q-6 マグネタイト単結晶(110)表面の結晶構造解析 von 尾田, 祐子, 水野, 清義, 居島, 薫, 東堂, 栄, 島養, 映子, 早川, 和延

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電子スピン計測のための電子衝撃加熱法 von 居島, 薫, 中村, 浩次, 高桑, 真歩, 鳥養, 映子, 早川, 和延

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RHEED強度定量的測定のための試料加熱法 von 高桑, 真歩, 居島, 薫, 中村, 浩次, 鳥養, 映子, 早川, 和延

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The Method of Electron Bombardment for Measurement of Secondary Electron Spin-Polarization von IJIMA, Kaoru, NAKAMURA, Koji, TAKAKUWA, Manabu, TORIKAI, Eiko, HAYAKAWA, Kazunobu

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Method of Sample Heating for Quantitative Measurement of RHEED Intensity von TAKAKUWA, Manabu, IJIMA, Kaoru, NAKAMURA, Koji, TORIKAI, Eiko, HAYAKAWA, Kazunobu

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ケイ素鉄単結晶 (001) 試料の2次電子スピン計測 von 居島, 薫, 水野, 清義, 川上, 直右, 早川, 和延

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反射高速電子回折で励起した2次電子のスピン計測 von 居島, 薫, 水野, 清義, 中村, 浩次, 清水, 三郎, 不破, 耕, 関, 整爾, 鳥養, 映子, 早川, 和延

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Spin-polarization Measurement of the Secondary Electrons Emitted from Silicon Steel Single Crystal (001) Surface von IJIMA, Kaoru, MIZUNO, Seigi, KAWAKAMI, Naosuke, HAYAKAWA, Kazunobu

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Measurement of the Spin-polarization of Secondary Electrons Excited by Reflection High Energy Electron Diffraction Field von IJIMA, Kaoru, MIZUNO, Seigi, NAKAMURA, Kohji, SHIMIZU, Saburo, FUWA, Koh, SEKI, Seiji, TORIKAI, Eiko, HAYAKAWA, Kazunobu

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