偏光分析CMOSイメージセンサの高精度化とin situ不斉計測への応用(高機能イメージセンシングとその応用) von 松岡 均, Matsuoka Hitoshi, 野田 俊彦, Noda Toshihiko, 笹川 清隆, sasagawa Kiyotaka, 徳田 崇, Tokuda Takashi, 寺尾 公維, Terao Kimitada, 西山 靖浩, Nishiyama Yasuhiro, 垣内 喜代三, Kakiuchi Kiyomi, 太田 淳, Ohta Jun

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偏光分析CMOSイメージセンサを用いたマイクロ化学システム用リアルタイム不斉計測デバイス von 立川, 展也, 松岡, 均, 野田, 俊彦, 笹川, 清隆, 徳田, 崇, 寺尾, 公維, 西山, 靖浩, 垣内, 喜代三, 太田, 淳

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リアルタイム不斉計測に向けた偏光分析CMOSイメージセンサの開発 von 藤岡, 侑司, 野田, 俊彦, 笹川, 清隆, 徳田, 崇, 寺尾, 公維, 西山, 靖浩, 堤, 健, 垣内, 喜代三, 太田, 淳

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14-7 偏光分析CMOSイメージセンサを用いたin situ不斉計測への応用(第14部門情報センシング) von 松岡, 均, 野田, 俊彦, 笹川, 清隆, 徳田, 崇, 寺尾, 公維, 西山, 靖浩, 垣内, 喜代三, 太田, 淳

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