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    変位電流法による金属／半導体界面でのキャリア注入障壁の測定

    変位電流法による金属／半導体界面でのキャリア注入障壁の測定 von 佐藤, 井一, 宮尾, 文啓, 吉田, 恵亮, 田島, 裕之


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