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    SiO2/GaN界面の固定電荷に対するGaN表面状態の影響

    SiO2/GaN界面の固定電荷に対するGaN表面状態の影響 von 上沼, 睦典, 安藤, 領汰, 古川, 暢昭, 石河, 泰明, 浦岡, 行治


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    高圧水蒸気処理を用いたGaOX層形成によるSiO2/GaN界面の特性評価

    高圧水蒸気処理を用いたGaOX層形成によるSiO2/GaN界面の特性評価 von 安藤, 領汰, 上沼, 睦典, 古川, 暢昭, Tengda, Lin, 石河, 泰明, 浦岡, 行治


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    高圧水蒸気処理によるSiO2膜の物性および電気的特性変化

    高圧水蒸気処理によるSiO2膜の物性および電気的特性変化 von 安藤, 領汰, 上沼, 睦典, 藤本, 裕太, 石河, 泰明, 浦岡, 行治


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