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1
我国可信性标准分析及其体系设计
von
于敏
,
孔学东
,
王积鹏
,
纪春阳
,
杨春晖
Veröffentlicht in
中国标准化
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MOSFET热载流子退化/寿命模型参数提取
von
杨谟华 孔学东
Veröffentlicht in
Journal of semiconductors
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电离辐射中S01 MOSFETs的背栅异常kink效应研究
von
刘洁 周继承 罗宏伟 孔学东 恩云飞 师谦 何玉娟 林丽
Veröffentlicht in
Journal of semiconductors
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