EB描画技術の展望 von 奥貫, 昌彦

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チミン, キノン1 : 1分子間化合物の結晶構造 : 分子結晶・有機半導体 von 桜井, 敏雄, 奥貫, 昌彦

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10p-J-11 GaAsのK吸収端近傍での異常散乱因子の測定 von 奥貫, 昌彦, 深町, 共栄, 細谷, 資明

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22p-N-8 完全結晶における極性結晶の極性による強度について von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 奥貫, 昌彦

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連続X線用2軸回折計による強度測定 von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 十川, 〓一, 奥貫, 昌彦, 松戸, 修

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3p-KE-3 X線の異常散乱を用いたBaTiO_3の精密構造の研究 von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 奥貫, 昌彦, 茅野, 基

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11p-K-6 SSD 2軸型回折計によるX線吸収スペクトルの測定法 von 奥貫, 昌彦, 細谷, 資明, 深町, 共栄, 大原, 荘司

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4a-KE-1 SSD単結晶回折計による強度測定 von 十川, 〓一, 細谷, 資明, 深町, 共栄, 奥貫, 昌彦

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4a-KE-8 Asの吸収端近辺でのGaAs666反射強度測定 von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 奥貫, 昌彦, 茅野, 基

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4a-KE-2 X線の異常分散曲線の測定 von 深町, 共栄, 細谷, 資明, 奥貫, 昌彦, 茅野, 基

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4a-KE-9 極性をもつ完全結晶のフリーデル対反射の強度比(LaueCase) von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 奥貫, 昌彦, 茅野, 基

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エネルギー分散型2軸自動回折計 (I・II) von 細谷, 資明, 深町, 共栄, 十川, 〓一, 奥貫, 昌彦, 茅野, 基

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走査型イオン顕微鏡によるイオンプローブの形成と二次電子像 von 穴澤, 紀道, 相原, 龍三, 奥貫, 昌彦

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