超高真空走査型プローブ顕微鏡に思う von 大岩, 烈

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ＸＰＳにおける深さ方向分析の新しい展開 von 富塚, 仁, 町田, 雅武, 大岩, 烈

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豊かで，誇れる科学立国の日本であるために von 大岩, 烈

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雰囲気光電子分光の現状と展望 von 町田, 雅武, 野副, 尚一, 大岩, 烈

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Japan Realized Focusing on Science which is Rich and can Pride Itself von OIWA, Retsu

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電子線が絶縁物に与える帯電とその補償 von 漆原, 宣昭, 諸橋, 智彦, 山本, 公, 岩井, 秀夫, 大岩, 烈

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表面分析技術の発展と展望 von 岩井, 秀夫, 大岩, 烈

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AES/XPSによる薄膜構造の評価技術 von 大岩, 烈, 田中, 彰博, 岩井, 秀夫

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極表層におけるホウ素のSIMS定量分析 von 星, 孝弘, 大岩, 烈, 工藤, 正博

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有機物試料の測定時変質(1): 硝酸セルロース・アセチルセルロースのX線光電子分光測定と窒素の1s光電子ピークに対する反応速度論的解析... von 田中, 彰博, 大岩, 烈, 吉原, 一紘

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XPSに用いられる走査型X線源のビーム形状とエネルギー分布シミュレーション von 岩井, 秀夫, 大岩, 烈, 工藤, 正博

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X線光電子分光法用走査型X線源の球面収差とビーム形状シミュレーション von 岩井, 秀夫, 大岩, 烈, 工藤, 正博

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オージェ像の画像解析 von 大岩, 烈, 田中, 彰博

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Quantitative Shallow Boron Analysis by SIMS under Several Bombardment Conditions of Oxygen Beam von HOSHI, Takahiro, OIWA, Retsu, KUDO, Masahiro

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Development and Futher Perspective of Surface Analysis Techniques on Grain Boundary of Iron Alloys von Iwai, Hideo, Oiwa, Retsu

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Simulation of Beam Shape and Energy Distribution for Scanning X-ray Probe von IWAI, Hideo, OIWA, Retsu, KUDO, Masahiro

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電界放射型オージェ電子分光分析法を用いた高純度Fe-S合金中の粒界微小析出物の分析 von 諸橋, 智彦, 星, 孝弘, 大岩, 烈, 劉, 春明, 安彦, 兼次

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Spherical Aberration and Beam Shape Simulation of Scanning X-ray Source for X-ray Photoelectron Spectroscopy von IWAI, Hideo, OIWA, Retsu, LARSON, Paul E., KUDO, Masahiro

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Studies of the SAM Image Processing von OIWA, Retsu, TANAKA, Akihiro

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