半導体ガスセンサのパルスジェットによる動作環境中表面分析に関する検討 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 坂口, 勲

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電子セラミックスを中心とした先端デバイスとその評価方法の開発 von 坂口, 勲

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ZnO系半導体ガスセンサのパルスジェットｰTPDによる大気圧下酸素吸着に関する解析 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 坂口, 勲, 中村, 穂, 大橋, 英幸, 相見, 晃久, 藤本, 憲次郎

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酸化亜鉛単結晶表面のガス吸着による電気伝導特性の変化と昇温脱離法による解析 von 中村, 穂, 安達, 裕, 斎藤, 紀子, 坂口, 勲, 藤本, 憲次郎, 相見, 晃久, 鈴木, 拓

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19aAE-11 Sn 表面における低速ヘリウムイオンの振動的な非対称性散乱 von 鈴木, 拓, 酒井, 治, 坂口, 勲

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19pPSA-58 二次元光電子回折によるWドープZnO半導体の表面構造解析 von 深見, 駿, 鈴木, 拓, 安達, 裕, 坂口, 勲, 渡邊, 賢, 室, 隆桂之, 松下, 智裕, 田口, 宗孝, 松井, 文彦, 大門, 寛

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酸化亜鉛の結晶面方位とエタノールセンシングとの関係 ～パルスジェット+低速He+イオン散乱分光による最表面分析 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 大垣, 武, 坂口, 勲

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低速He+イオン散乱分光とパルスジェット法の組み合わせによる駆動中ガスセンサの最表面構造解析に関する検討 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 大垣, 武, 坂口, 勲

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イメージングSIMSによる界面分析 von 坂口, 勲

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酸化物中の水素の電荷補償への寄与とその安定性 von 大橋, 直樹, 大澤, 健男, 坂口, 勲

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パルスジェット法と組合わせた低速He+イオン散乱分光によるZnO表面のエタノールセンシングに関する分析 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 大垣, 武, 坂口, 勲

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ガスセンサ表面の準大気圧下での表面分析のためのパルスジェット法の開発 von 鈴木, 拓, 安達, 裕, 坂口, 勲

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クライオ昇温脱離法の呼気分析への応用に向けた検討 von 鈴木, 拓, 坂口, 勲

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超水素高感度昇温熱脱離分析装置の開発 von 平松, 秀典, 半那, 拓, 坂口, 勲, 細野, 秀雄

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不純物添加による酸化ランタン薄膜の耐湿性向上 von 安達, 裕, 坂口, 勲

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Development of evaluation method on electric ceramics devices von SAKAGUCHI, Isao

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High spatial resolution imaging of helium isotope by TOF-SNMS von Bajo, Ken-ichi, Itose, Satoru, Matsuya, Miyuki, Ishihara, Morio, Uchino, Kiichiro, Kudo, Masato, Sakaguchi, Isao, Yurimoto, Hisayoshi

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サファイアr面上に成長したScN薄膜の構造と電子移動度 von 大垣, 武, 坂口, 勲, 大橋, 直樹, 羽田, 肇

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Quantitative analysis of helium by post-ionization method using femtosecond laser technique von Yurimoto, Hisayoshi, Bajo, Ken-ichi, Sakaguchi, Isao, Suzuki, Taku T., Jurewicz, Amy J. G., Itose, Satoru, Uchino, Kiichiro, Ishihara, Morio

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高感度水素検出用昇温脱離ガス分析装置の開発 ― 酸化物半導体薄膜中の微量水素濃度決定への適用 von 半那, 拓, 平松, 秀典, 坂口, 勲, 細野, 秀雄

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