X線マイクロ回折法によるGaN自立基板の結晶性評価 von 原田, 進司, 渡邉, 翔大, 吉川, 純, 中村, 芳明, 三宅, 秀人, 平松, 和政, 今井, 康彦, 木村, 滋, 坂田, 修身, 酒井, 朗

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X線マイクロ回折によるFACELO成長GaN膜の結晶性評価 von 中村, 邦彦, 原田, 進司, 吉川, 純, 竹内, 正太郎, 中村, 芳明, 三宅, 秀人, 平松, 和政, 今井, 康彦, 木村, 滋, 坂田, 修身, 酒井, 朗

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Si基板上サブミクロン領域にエピタキシャル成長したGe薄膜の転位構造 von 原田, 進司, 海老原, 洪平, 吉川, 純, 中村, 芳明, 酒井, 朗

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X線マイクロ回折を用いたGaN自立基板の格子面傾斜ゆらぎの解析 von 渡邉, 翔大, 原田, 進司, 吉川, 純, 中村, 芳明, 三宅, 秀人, 平松, 和政, 今井, 康彦, 木村, 滋, 坂田, 修身, 酒井, 朗

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Si基板上に選択エピタキシャル成長したGe細線の歪緩和過程 von 海老原, 洪平, 原田, 進司, 吉川, 純, 中村, 芳明, 酒井, 朗, 今井, 康彦, 木村, 滋, 坂田, 修身

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Study of the (0004) plane tilting in a thick AlN film grown on a trench-patterned α-Al2O3 substrate by X-ray microdiffraction von Thanh, Khan Dinh

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Distribution of three-dimensional local strain in thick AlN film grown on a trenchpatterned AlN/α-Al2O3 template

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