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    Temperature-Dependent Drain Current Characteristics and Low Frequency Noises in Indium Zinc Oxide Thin Film Transistors

    Temperature-Dependent Drain Current Characteristics and Low Frequency Noises in Indium Zinc Oxide Thin Film Transistors von 刘远 吴为敬 强蕾 王磊 恩云飞 李斌

    Veröffentlicht in Chinese physics letters

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