データの書き換え頻度に応じたTLC NAND型フラッシュメモリにおけるワード線単位のしきい値電圧変調手法 von 出口, 慶明, 竹内, 健

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TLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化とデータ圧縮を同時に実現するメモリコントローラ技術 von 出口, 慶明, 渡邉, 光, 竹内, 健

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TLC NAND型フラッシュメモリにおけるLDPC符号の訂正能力向上に向けたバーストエラー削減手法 von 中村, 俊貴, 出口, 慶明, 竹内, 健

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階層型ストレージのSSDキャッシュ向け多元ハフマン符号を用いた非対称エラー削減手法 von 渡邉, 光, 出口, 慶明, 竹内, 健

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深層学習を用いた画像認識システム向け3D-TLC NAND型フラッシュメモリ搭載Value-Aware SSD von 出口, 慶明, 中村, 俊貴, 竹内, 健

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1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける読み出しディスターブエラー向け誤り訂正符号 von 出口, 慶明, 竹内, 健

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3D-NAND 型フラッシュメモリにおける横方向への電荷移動抑制による高信頼化技術 von 溝口, 恭史, 小滝, 翔平, 出口, 慶明, 竹内, 健

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1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和技術 von 出口, 慶明, 小林, 惇朗, 竹内, 健

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