Suchergebnisse - 冨ケ原, 一樹 | OPAC THWS

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$GaN(000\overline{1})面上に形成したSiO2/GaN MOSキャパシタの電気特性評価$

GaN(000\overline{1})面上に形成したSiO2/GaN MOSキャパシタの電気特性評価 von 冨ケ原, 一樹, 和田, 悠平, 溝端, 秀聡, 野崎, 幹人, 吉越, 章隆, 細井, 卓治, 志村, 考功, 渡部, 平司

Veröffentlicht in 応用物理学会学術講演会講演予稿集

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