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Total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFETs
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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Total ionizing dose effects and annealing behavior for domestic VDMOS devices
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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Double humps and radiation effects of SOI NMOSFET
Veröffentlicht in Journal of semiconductors
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ELDRS and dose-rate dependence of vertical NPN transistor
Veröffentlicht in Chinese physics C
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