252-1. 精度管理から見た心電図所見と判定カテゴリー分布の施設間格差 von 五関善成, 伊藤誠吾, 萩原剛

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3-2 SDL法を用いたLSIのダイナミック故障解析(セッション3 LSIの故障解析-2)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告) von 伊藤, 誠吾

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3-2 SDL法によるLSI回路のダイナミック不良解析(セッション3 LSIの故障解析(2),第17回秋季信頼性シンポジウム) von 伊藤, 誠吾

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微弱電界測定の新しい展開と生体への応用の可能性 von 滝口清昭, 伊藤誠吾, 河野賢司, 袖山洋子

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2.2CMOS LSIにおける結晶欠陥モードの解析と対策(セッション2「故障解析2」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告) von 桑島, 敦, 杉原, 豊, 中村, 実也, 伊藤, 誠吾

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2.2 CMOS LSIにおける結晶欠陥モードの解析と対策(セッション2「故障解析2」) von 桑島, 敦, 杉原, 豊, 中村, 実也, 伊藤, 誠吾

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微弱電界測定の新しい展開と生体への応用の可能性: 教育講演,第31回生命情報科学シンポジウム von 滝口, 清昭, 伊藤, 誠吾, 河野, 賢司, 袖山, 洋子

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