Current Status and Future Perspectives on Clinical Biomarker driven Drug Development von 今井, 康彦, 上野, 貴代, 谷河, 賞彦, 伊藤, 和美, 鯉渕, 明良, ビクトリア, リー, 松島, 信子, 大石, 純子

Volltext

リラクサー強誘電体のナノビームX線回折による局所構造計測 von 青柳, 忍, 小川, 敏夫, 今井, 康彦, 木村, 滋

Volltext

半導体結晶中特異構造の３次元微細構造解析 von 酒井, 朗, 鎌田, 祥平, 志田, 和己, 竹内, 正太郎, 今井, 康彦, 木村, 滋

Volltext

個別化医療に向けて医薬品研究開発ステージからの挑戦 von 山本, 有一, 金山, 範洋, 中山, 雄介, 今井, 康彦, 松島, 信子, 大石, 純子

Volltext

28aAL-5 X線移送子を用いた放射光偏光メスバウアー分光法の開発研究(28aAL X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))... von 三井, 隆也, 今井, 康彦, 平尾, 直久, 松岡, 岳洋, 瀬戸, 誠

Volltext

Ｘ線ナノビーム回折を用いたサファイア基板上に成長したGa1-xInxN/GaN五重量子殻構造の障壁層幅依存評価 von 宮嶋, 孝夫, 近藤, 剣, 市川, 貴登, 小林, 稜汰, 太田, 翔也, 安藤, 嘉威, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 上山, 智, 今井, 大地

Volltext

集束イオンビームマイクロサンプリングにより摘出した Ga1-xInxN/GaN 五重量子殻に対するＸ線ナノビーム回折 von 宮嶋, 孝夫, 市川, 貴登, 近藤, 剣, 小林, 稜汰, 宇野, 光輝, 安田, 伸広, 今井, 康彦, 榎本, 早希子, 荒井, 重勇, 上山, 智, 今井, 大地

Volltext

28aAM-1 強誘電体・反強誘電体相境界におけるエピタキシャル薄膜の圧電応答挙動(28aAM 誘電体(ドメイン,リラクサ),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))... von 安井, 伸太郎, 江原, 祥隆, 白石, 貴久, 清水, 荘雄, 舟窪, 浩, 今井, 康彦, 田尻, 寛男, 坂田, 修身, 伊藤, 満

Volltext

26pXZE-7 TaS_2超薄膜単結晶デバイスの作製と電子相転移(26pXZE 領域8,領域7合同 電界効果・薄膜,領域7(分子性固体・有機導体)) von 吉田, 将郎, 張, 奕勁, 叶, 劍挺, 今井, 康彦, 木村, 滋, 藤原, 明比古, 西嵜, 照和, 小林, 典男, 岩佐, 義宏

Volltext

26pXZE-7 TaS_2超薄膜単結晶デバイスの作製と電子相転移(26pXZE 領域8,領域7合同 電界効果・薄膜,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))... von 吉田, 将郎, 張, 奕勁, 叶, 劍挺, 今井, 康彦, 木村, 滋, 藤原, 明比古, 西嵜, 照和, 小林, 典男, 岩佐, 義宏

Volltext

Ｘ線ナノビームによる GaN ナノワイヤ側面に成長した Ga1-xInxN/GaN 三重量子井戸の構造評価 von 宮嶋, 孝夫, 清木, 良麻, 澁谷, 弘樹, 今井, 康彦, 隅谷, 和嗣, 木村, 滋, 近藤, 剣, 上山, 智, 今井, 大地

Volltext

X線ナノビーム回折法を用いたGaN基板上Ga1-xInxN/GaN量子殻の局所構造評価 von 小林, 稜汰, 太田, 翔也, 西村, 一輝, 青山, 晃己, 赤坂, 春城, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 宮本, 義也, 上山, 智, 今井, 大地, 宮嶋, 孝夫

Volltext

放射光ナノビームX線回折による結晶評価の現状 von 今井, 康彦, 隅谷, 和嗣, 木村, 滋

Volltext

コーン型NPSS 上 AlN テンプレートに成長させた AlN 厚膜の微細構造解析 von 中西, 悠太, 山本, 望, 濱地, 威明, 林, 侑介, 藤平, 哲也, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 肖, 世玉, 三宅, 秀人, 酒井, 朗

Volltext

大型放射光施設SPring-8のX線マイクロビームを用いた単一Ga1-xInxN/GaN量子殻の局所構造評価 von 市川, 貴登, 近藤, 剣, 安田, 信広, 今井, 康彦, 中尾, 知代, 荒井, 重勇, 後藤, 七美, 上山, 智, 今井, 大地, 宮嶋, 孝夫

Volltext

ナノビームX線回折法によるNPSS上AlN厚膜の深さ分解結晶性トモグラフィック評価 von 山本, 望, 林, 侑介, 濱地, 威明, 中西, 悠太, 藤平, 哲也, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 正直, 花奈子, 三宅, 秀人, 酒井, 朗

Volltext

AlGaN/GaN HEMTデバイスにおける局所圧電格子変形の放射光ナノビームX線回折オペランド計測 von 塩見, 春奈, 嶋田, 章宏, 藤平, 哲也, 林, 侑介, 金木, 奨太, 橋詰, 保, 今井, 康彦, 隅谷, 和嗣, 木村, 滋, 酒井, 朗

Volltext

ナノビームX線回折によるHVPE-GaNバルク結晶における単独貫通転位周辺の局所歪解析 von 濱地, 威明, 藤平, 哲也, 林, 侑介, 宇佐美, 茂佳, 今西, 正幸, 森, 勇介, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 酒井, 朗

Volltext

３．医薬品開発におけるリアルワールドデータ活用への期待　―製薬企業の視点より von 東郷, 香苗, 川松, 真也, 木口, 亮, 今井, 康彦

Volltext

ナノビームX線回折法による高Ge組成SiGe／組成傾斜SiGe／Si積層構造の深さ分解結晶性トモグラフィック評価 von 志田, 和己, 藤平, 哲也, 林, 侑介, 隅谷, 和嗣, 今井, 康彦, 木村, 滋, 酒井, 朗

Volltext