20pHT-8 イン・ビームメスバウア分光法による応力下シリコン中の鉄不純物観察(20pHT 格子欠陥,ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))... von 鈴木, 都文, 吉田, 豊, 小林, 義男, 上野, 秀樹, 行平, 憲一, 早川, 一生, 三原, 基嗣, 佐藤, 渉, 吉見, 彰洋, 長友, 傑, 市川, 雄一, 古川, 武, 井上, 壮士, 挾間, 優佳, 飯島, 裕章, 土屋, 真人, 林, 宏憲, 石井, 裕司, 七尾, 翼, 旭, 耕一郎

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