ПРОБЛЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ КАЧЕСТВОМ БАЗОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ, ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ И ПРОИЗВОДСТВЕ СБИС... von Панасюк, В.Н., Королева, А.Н., Игнатов, П.В., Шипицин, Д.С.

Volltext

ПРОБЛЕМЫ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ ТРЕБОВАНИЙ НАДЕЖНОСТИ ЭКБ СПЕЦИАЛЬНОГО НАЗНАЧЕНИЯ von Кравцов, А.С., Панасюк, В.Н., Селецкий, А.В., Шелепин, Н.А.

Volltext

СИСТЕМЫ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ РАЗЛИЧНЫХ ТИПОВ ОРГАНИЗАЦИЙ РАЗРАБОТЧИКОВ И ИЗГОТОВИТЕЛЕЙ СБИС И ПРОБЛЕМЫ СОЗДАНИЯ РЕЗУЛЬТАТИВНЫХ ОРГАНИЗАЦИОННО-ТЕХНИЧЕСКИХ ИНТЕРФЕЙСОВ... von Панасюк, В.Н., Королёва, А.Н., Игнатов, П.В., Шипицин, Д.С.

Volltext

СИСТЕМЫ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ РАЗЛИЧНЫХ ТИПОВ ОРГАНИЗАЦИЙ РАЗРАБОТЧИКОВ И ИЗГОТОВИТЕЛЕЙ СБИС И ПРОБЛЕМЫ СОЗДАНИЯ РЕЗУЛЬТАТИВНЫХ ОРГАНИЗАЦИОННОТЕХНИЧЕСКИХ ИНТЕРФЕЙСОВ... von Панасюк, В.Н., Королёва, А.Н., Игнатов, П.В., Шипицин, Д.С.

Volltext

ПРОБЛЕМЫ ПОДТВЕРЖДЕНИЯ ТРЕБОВАНИЙ НАДЕЖНОСТИ ЭКБ СПЕЦИАЛЬНОГО НАЗНАЧЕНИЯ von Кравцов, А.С., Панасюк, В.Н., Селецкий, А.В., Шелепин, Н.А.

Volltext