Оценка надежности однократно программируемых постоянно запоминающих устройств, созданных на основе программируемых с помощью механизма электромиграции перемычек (eFuse)... von Белостоцкая, С.О., Лукьянов, А.А., Росляков, А.С., Семёнов, А.Н., Фёдоров, Р.А.

Volltext

К вопросу о деформации и разрушении пористой керамики на основе диатомита von Скворцов, А.А., Николаев, В.К., Лукьянов, М.Н., Чебенева, И.Е.

Volltext